Materialwissenschaftler der Friedrich-Schiller-Universität haben eine Methode für das Transmissionselektronenmikroskop (TEM) entwickelt, mit der auch feinste Strukturen mit einem unregelmäßigen Beugungsbild verwertbare Informationen liefern. Neben dem Abbild der Probe sind mit einem TEM auch Beugungsbilder möglich, die sich als regelmäßige oder unregelmäßige Punktemuster bemerkbar machen. Ein Artikel im Fachjournal „Advanced Materials" informiert derzeit die nationalen und internationalen Kollegen über die neuen 
Forschungsergebnisse. mk
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